Inspection method for electronic circuit substrate

電子回路基板の検査方法

Abstract

PURPOSE: To reduce the dedicated floor area required for inspection by disposing apparatus such as a personal computer, a monitor, a keyboard, a printer and so on required for a functional test and an aging test for an electronic circuit substrate in a state stacked in a rack, to reduce the number of inspection apparatus to be used by switching the inspection apparatus by using a switching device, and to reduce the cost concerning the functional test and aging test for an electronic circuit substrate by decreasing the number of inspectors. CONSTITUTION: Personal computers PC1-4, monitors MT1, MT2, keyboards KB1, KB2, buffer memories BU1, BU2 and a switching device SS set according to the kind and number of manufactured RAM boards are disposed in a stacking state in a rack RC to reduce the private floor area required for inspection and inspect the RAM boards, and the apparatus are switched corresponding to the kind and number of RAM boards by the switching device to reduce the number of inspection apparatus to be used. COPYRIGHT: (C)1994,JPO&Japio
(57)【要約】 【目的】 パ−ソナルコンピュ−タ、モニタ−、キ−ボ −ド、プリンタ−などの電子回路基板の機能検査、エ− ジング検査に必要な機器をラックに積層状に配置するこ とにより検査に必要な専有床面積を少なくするととも に、切換装置を用いて検査機器を切り換えることによ り、検査機器の使用機数を少なくし、合わせて検査員の 数を減少させることにより電子回路基板の機能検査、エ −ジング検査に係るコストを低減させることを目的とす る。 【構成】 製作されたRAMボ−ドが機種及び枚数に応 じてセットされたパ−ソナルコンピュ−タPC1〜4、 モニタ−MT1,MT2、キ−ボ−ドKB1,KB2、 緩衝記憶装置BU1,BU2、切換装置SSなどをラッ クRCに積層状に配設することにより検査に必要な専有 床面積を少なくした状態でRAMボ−ドを検査するとと もに、切換装置SSにより、RAMボ−ドの各機種及び 枚数に対応して上記各機器を切り換え、検査機器の使用 数を少なくする。

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